| Название документа | формат | дата создания/ обновления |
| Реквизиты Института | ||
| Бланки внутренних общеинститутских документов | ||
| Приказ №3 от 15.01.2018 г. Об изменении бланков НИОХ СО РАН | 15 января 2018 г. | |
| бланк приказа по институту | RTF | 10 сентября 2018 г. |
| продольный бланк письма | RTF | 10 сентября 2018 г. |
| угловой бланк письма | RTF | 10 сентября018 г. |
| бланк на ангийском языке | RTF | 10 сентября 2018 |
| бланк доверенности | RTF | 10 сентября 2018 г. |
| бланк зам.директора | RTF | 10 января 2012 г. |
| Приказ №54 от 13.07.2020 О назначении постоянно действующей комиссии по выводу и приемке в эксплуатацию перепрофилированных и вновь оборудованных после ремонта объектов лабораторного и производственного назначения Института | ||
| План размещения оборудования в помещении | DOCX | 20 июля 2020 г. |
| Дефектная ведомость | DOCX | 20 июля 2020 г. |
| Акт приемки в эксплуатацию | DOCX | 20 июля 2020 г. |
| Порядок списания приборов и оборудования | ||
| Порядок списания ОС | DOCX | 01 января 2021 г. |
| Приказ №4 от 21 01 2021 Об утверждении перечней особо ценного движимого имущества на 01.01.2021 года | 21 января 2021 г. | |
| Служебная записка на списание ОС (пример) | 21 января 2021 г. | |
| Служебная записка на списание ОС | XLS | 21 января 2021 г. |
| Бланки заявок для ОХЦ | ||
| Заявка на утилизацию оргсливов в ОХЦ | WORD | 18 июня 2025 г. |
| Оформление экспертного заключения | ||
| New! Экспертное заключение о возможности опубликования | RTF | 7 мая 2026 г. |
| УВЕДОМЛЕНИЕ о создании в связи с выполнением трудовых обязанностей или конкретного задания работодателя охраноспособного результата интеллектуальной деятельности | RTF | 8 ноября 2017 г. |
| Заявление о выдаче денег под отчет, Заявление о возмещении служебных расходов | RTF | 8 февраля 2018 г. |
| Заявка в Тех. службы | RTF | 26 июля 2013 г. |
| Бланки заявок на выполнение анализов и физико-химических измерений, а так же работ в ИЦ СО РАН | ||
| Заявки на регенерацию SiO2 | WORD | 05 января 2025 г. |
| на газо-хроматографический анализ | 25 апреля 2013 г. | |
| на элементный анализ (микроанализ) | 16 декабря 2010 г. | |
| на регистрацию спектров ЯМР | 16 декабря 2010 г. | |
| на регистрацию ИК-спектров | 16 декабря 2010 г. | |
| на регистрацию электронных спектров (UV/Vis) | 16 декабря 2010 г. | |
| на регистрацию масс-спектров (DFS) | 16 декабря 2010 г. | |
| на поляриметр | 16 декабря 2010 г. | |
| на регистрацию газовых хромато-масс-спектрограмм | 16 декабря 2010 г. | |
| на регистрацию жидкостных хромато-масс-спектрограмм | 16 декабря 2010 г. | |
| на флуориметр | 16 декабря 2010 г. | |
| на электронный микроскоп | 16 декабря 2010 г. | |